IEC 60068-2-78:2020是一种国际标准,它指定了半导体设备的测试方法。该标准由国际电力技术委员会(IEC)制定,提供了指南,以确保在各种环境条件下的半导体设备的可靠性和质量。
IEC的重要性IEC 60068-2-78:2020
半导体设备是各种电子系统中的关键组件,包括智能手机,计算机,汽车电子设备和工业设备。这些设备的可靠性和性能可能会受到温度,湿度,冲击和振动等因素的影响。因此,必须拥有确保设备在不同环境中的耐久性和功能的行业标准至关重要。
测试程序
IEC 60068-2-78:2020标准概述特定的测试程序,以评估半导体设备对环境压力的抵抗力。这些测试包括温度循环,潮湿的热量和稳态温度 - 湿度偏置。让我们仔细研究每个测试过程:
温度循环
在此测试中,半导体装置会经过极端温度的重复循环。目的是模拟设备在操作过程中可能会发生的热应力。通过将设备暴露于高温和低温下,工程师可以评估其承受温度波动而不会降低性能或可靠性的能力。
潮湿热量
潮湿的热测试旨在评估设备在长时间内对高湿度和温度升高的阻力。该设备通常放置在具有控制湿度水平的腔室中,并暴露于温度升高。该测试有助于确定湿度引起的腐蚀,绝缘崩溃或与潮湿环境长期暴露有关的其他因素引起的潜在故障。
稳态温度 - 湿度偏见
此测试包括将半导体设备持续将半导体装置曝光与湿度组合。目的是评估其在持续的环境压力下的性能。通过将设备长期遵守这些条件,工程师可以确定与吸收,分层或电化学反应有关的潜在故障,这是由于长期暴露于特定环境而引起的。
结论
IEC 60068-2-78:2020是一个重要的国际标准,可确保在各种环境条件下的半导体设备的可靠性和质量。该标准中概述的测试方法可帮助制造商和工程师评估设备对温度波动,高湿度和其他应力因素的抵抗力。遵守这些标准不仅可以提高电子系统的整体性能,还可以提高其寿命和耐用性。
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