en ISO 27165-2:2017是一种技术标准,为表征电子组件表面颗粒污染的指导提供了指导。该标准在确保电子设备的可靠性和性能中起着至关重要的作用,尤其是在清洁度至关重要的行业,例如汽车和航空航天。
EN ISO 27165-2:2017
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电子组件上存在颗粒物污染,可能会导致各种问题,包括电短短裤,腐蚀和降解性能。EN ISO 27165-2:2017旨在通过建立一个共同的框架来评估和测量对电子表面上的粒子污染的共同框架来减轻这些风险。
此标准使制造商和汇编者可以设置基于粒度和数量的可接受限制根据他们的具体要求。通过遵守这些限制,公司可以确保其产品的质量和可靠性,从而最大程度地减少失败和客户投诉。
EN ISO 27165-2:2017
EN的关键要素ISO 27165-2:2017定义了表征颗粒物污染的几个关键要素:
采样方法:该标准提供了采样方法的指南,以从电子表面收集颗粒。这些方法可能包括胶带或拭子采样,真空或吹空气采样以及溶剂提取。
粒子计数:EN ISO 27165-2:2017建立了基于其大小范围的计数和分类粒子的程序。这使制造商可以监视和控制整个生产过程中的污染水平。
报告和文档:标准强调了适当的报告和文档粒子污染数据的重要性。清晰准确的记录使可追溯性并促进有效的分析和改进活动。
结论
en ISO 27165-2:2017对于依靠电子组件的行业来说是至关重要的标准。通过遵守该标准中概述的指南,公司可以在满足客户期望的同时确保其产品的质量和可靠性。通过标准化的采样方法,粒子计数程序和有效报告,EN ISO 27165-2:2017提供了一个框架,可增强电子设备的清洁度和性能。
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